Sumario: | En el presente trabajo se diseñó e implementó un sistema de supervisión y control dedicado a comunicar e intercomunicar un arreglo de dispositivos y de componentes de nanoposicionamiento con sus respectivas interfaces control y comunicación de fábrica, que permita a través de una interfaz con el usuario obtener patrones de reflexión e interferencia sobre superficies e interfaces de arreglos en capas delgadas y nanoestructurados, de materiales dieléctricos, semiconductores y conductores, inorgánicos y orgánicos. Esto permite la caracterización y desarrollo de nanoestructurados y dispositivos de interés, requeridos por Grupo de Películas Delgadas y Nanofotónica de la Pontificia Universidad Javeriana (GPD&NF_PUJ)
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